检测项目
1.涂层外径偏差：测量范围3μm，分辨率0.1μm2.芯层同心度误差：允许公差≤0.5μm3.包层椭圆度：最大允许值0.8%4.双层涂层厚度比：内/外层厚度比1:2~1:35.涂层-包层偏移量：轴向偏移≤1.2μm
检测范围
1.G.652D标准单模通信光纤2.OM4/OM5多模梯度折射率光纤3.掺铒光纤（EDFA用）4.抗弯光纤（Bend-Insensitive型）5.紫外固化丙烯酸酯涂层光纤
检测方法
1.ASTMD4566-2018光纤几何尺寸测试方法2.IEC60793-1-20:2014光缆测量方法-几何参数3.GB/T15972.20-2008光纤试验方法规范-尺寸参数4.ISO/IEC14763-3:2014光缆安装测试规程5.TIA/EIA-455-176-B涂层同心度干涉测量法
检测设备
1.EXFOFVA-3150光纤几何分析仪：测量外径/椭圆度/同心度2.AnritsuAQ1200系列干涉仪：芯层偏移量分析3.LunaOVA5000光学矢量分析系统：三维形貌重构4.YokogawaAQ2200-212涂层测厚仪：分辨率达10nm5.VytranFFS-2000断面研磨系统：制备端面样本6.OlympusMX63L工业显微镜：500倍光学放大观测7.MitutoyoLSM-9020激光扫描测微计：非接触式直径测量8.ThorlabsOSA205C光谱分析模块：折射率分布验证9.Agilent8703B偏振分析仪：应力双折射关联测试10.KeyenceVHX-7000数字显微镜：三维表面形貌分析
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
